研究概况：
主要研究领域包括IC设计和测试、芯片安全、可靠性加固与预警等,主持国家自然科学基金5项、国家预研项目3项。讲授“VLSI测试和可测试性设计”和“模拟、混合信号和射频电路测试”课程。曾获省部级一、二等奖3项，出版著（译）作3部，授权专利11项，发表论文50多篇，主持开发了40多种集成电路验证和测试程序。电子学会和计算机学会高级会员。
代表性论文：
1.Yinxuan Lyu, Jianhua Feng, Kai Zhu, Hongfei Ye, Dunshan Yu, Fully on-chip clock jitter and skew measurement scheme via incoherent subsampling, Microelectronics Journal, 2020, 96(2):1-10.
2.Yi Zhong, Jianhua Feng, Xiaoxin Cui, and Xiaole Cui, Machine Learning Aided Key-Guessing Attack Paradigm Against Logic Block Encryption, Journal of Computer Science and Technology, 2021, 36 (5): 1102-1117.
3.Yinxuan Lyu, Jianhua Feng, Hongfei Ye, Dunshan Yu, All-digital synchronous 2 × time-difference amplifier based on time register, Electronics Letters, 2017, 53(16):1102-1104.
4. Kai Zhu, Jianhua Feng, Yinxuan Lyu and Ai He, High-precision differential time integrator based on time adder, Electronics Letters, 2018, 54 (22): 1268-1270.
5. Haifeng Guo, Jianhua Feng, Yinxuan Lyu, Highly-linear wide-range voltage-controlled delay element with body bias technique, Microelectronics Journal, 2020, 96(2): 1-5.
6. Kai Zhu, Jianhua Feng, Yinxuan Lyu, A 336fsrms 0.89mW 200MS/s 5MHz Bandwidth 2–2 MASH ΔΣ Time-to-Digital Converter with Differential Time-Mode Arithmetic Units, IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2020.12-14, 1-5
7. Yinxuan Lyu, Jianhua Feng, Chenfeng Tu, Linqi Shi, Hongfei Ye, Weixin Gai, Dunshan Yu, A 108fsrms 0.45mW 100MS/s 1.25MHz bandwidth multi-bit ΔΣ time-to-digital converter with dynamic element matching, IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2018, 1-5.
8. Da Li, Lei Jin, Liang Yan, Xinlei Jia, Jianquan Jia, Jianhua Feng, Impact of low temperature on the TSG Vt shift during erase cycling of 3-D NAND Flash memory, IEEE 26th International Symposium on Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2019, 1-3.
9. Chen Zhen, Feng Jianhua, Xiang Dong, Yin Boxue, Scan chain configuration based X-filling for low power and high quality testing, IET Computers and Digital Techniques, 2010，4（1）: 1-13.
10. Lin Teng, Feng Jianhua, Yu Dunshan, A novel interconnect testing scheme for Xilinx FPGAs, IEICE Transactions on Information and Systems, 2009,VOL.E92-D, NO.5,1197-1199.
著（译）作：
1.时万春、孙义和、冯建华等，《现代集成电路测试技术》，化学工业出版社，2006
2.冯建华、肖钢译，《模拟和混合信号集成电路测试与测量》，电子工业出版社，2007
3.蒋安平、冯建华、王新安译，《超大规模集成电路测试—数字、存储器和混合信号电路测试》，电子工业出版社，2005
科研项目：
1.主持国家自然科学基金面上项目，基于嵌入式监控器的时间测量技术研究，62174002，2022.1-2025.12
2.主持国家预研项目，集成电路硬件木马可信模型及检测技术，2017.1-2021.12
3.主持国家自然科学基金面上项目，硬件木马检测方法和可信设计技术研究，61672054，2017.1-2020.12
4.主持国家自然科学基金面上项目，芯片硬件木马安全检测方法研究，61176039，2012.1-2015.12
5.主持国家预研项目，现场可编程门阵列器件可测试性设计和测试技术，2006.1-2010.12
6.主持国家自然科学基金面上项目，嵌入式模拟和混合信号电路DFT 和BIST研究，60576030，2006.1-2008.12
7.主持国家自然科学基金重大研究计划，基于嵌入式内核SOC 系统芯片测试方法研究，90207018，2003.1-2005.12
8.主持国家预研基金，混合信号电路BIST 和噪声测试研究，2005.1-2007.12
荣誉奖项：
1.Yinxuan Lyu, Jianhua Feng, Kai Zhu, Hongfei Ye, Dunshan Yu, Fully on-chip clock jitter and skew measurement scheme via incoherent subsampling, Microelectronics Journal, 2020, 96(2):1-10, Best Paper Award of Microelectronics Journal. Elsevier.
2.王翔, 肖利民, 任奇, 章隆兵, 夏同生, 张蕾, 范东睿, 冯建华, 范宝峡, 孙华军, 王维克, 王涛, 赵宗民, 张准, 郝强, 高安全低功耗嵌入式系统芯片技术及应用, 北京市技术发明奖，一等奖，2019
3.田泽、邵刚、郭蒙、韩炜、冯建华、郎静、廖寅龙、王泉、李世杰、赵刚、宋晓南、刘敏侠、王晋、吕俊盛、惠晓强, 离散量信号接口处理专用芯片研制及应用解决方案关键技术研究，中航工业集团科学技术奖, 二等奖，2014
4.赵东燕、付青琴、李振国、陈燕宁、胡晓波、冯建华，电力工业芯片可靠性设计关键技术研究，中国电机工程学会，获中国电力技术发明奖三等奖, 2018
5.时万春、孙义和、冯建华、魏道政、戴昌培、陈大为、张东，《现代集成电路测试技术》，化学工业出版社，中国石油和化学工业优秀科技图书奖，一等奖，2007
授权发明专利:
1.冯建华、孟凡翔、薛周鹏、叶红飞，一种基于PUF和模糊处理的电路可信性设计方法，国家发明专利，北京大学，201810414241.9，授权日期：2021.7.9
2.冯建华、薛周鹏、叶红飞，基于多特征参数的门级硬件木马检测方法，国家发明专利，北京大学，201810389087.4，授权日期：2021.8.3
3.冯建华、蔡宜君，侯明浩，一种基于密钥门位置选择的逻辑加密防御方法，国家发明专利，北京大学，201910065552.3，授权日期：2021.8.6
4.冯建华、韩旭、李蕾、张兴，一种基于模糊处理的抗硬件木马电路设计方法，中国发明专利，北京大学，201210099632.9，授权日期：2017.7.25
5.尚子靖、冯建华、李蕾、安辉耀、王新安、张兴，一种基于活性测度的硬件木马检测方法，中国发明专利，北京大学，201210090666.1，授权日期：2017.7.25
6.冯建华，龚浩然，基于激活概率分析的抗硬件木马电路设计方法，中国发明专利，北京大学，201310120093.7，授权日期：2017.10.3
7.王秋实、冯建华，可容软错误的扫描链触发器，中国发明专利，北京大学，201210139023.1，授权日期：2017.10.3
8.冯建华，林腾，徐文华，王阳元，一种现场可编程门阵列的测试方法及系统，中国发明专利，北京大学， 200810227979.0，授权日期：2010.9.8
9.冯建华，林腾，徐文华，王阳元，一种现场可编程门阵列器件中使用的互连测试电路，中国发明专利，北京大学，200910077072.5，授权日期：2011.3.23
10.冯建华，孙博韬，林腾，徐文华，面向应用的FPGA的延迟故障测试方法及系统，中国发明专利，北京大学， 200910083717.6，授权日期：2011.6.28
11.冯建华、任建国、叶红飞，一种全数字的开关电容sigma-delta调制器可测性设计电路及方法，中国发明专利，北京大学，200910077073.X，授权日期：2013.06.12
